Klient: Siemens US
Format: Whitepaper
Größe: 1,16 MB
Sprache: Englisch
Datum: 29.10.2025

A Revolution in Chip-Level Drc Debug Using AI Guided Results Analysis

Calibre Vision AI transforms chip-level DRC debug with AI-driven analysis and compact OASIS format, enabling rapid root cause identification, faster iterations and actionable insights for today’s most complex IC designs.

Struggling with chip-level DRC debug? Introducing Calibre Vision AI: a revolution in DRC debug. Calibre Vision AI uses AI and OASIS format for rapid, scalable DRC in chip design.

Download this technical paper to explore how this new Calibre product enables design teams to quickly identify, prioritize and resolve even billions of violations—dramatically accelerating physical verification for today’s most complex IC designs.

Key benefits include:
  • Rapid loading and analysis of billions of DRC errors with the compact OASIS format
  • AI-guided grouping and prioritization of violations for faster root cause identification
  • Enhanced visualization and navigation for efficient chip-level debug
  • Improved collaboration with bookmarking and reporting features 
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Datenschutz-/Herunterladebedingungen:

Datum: 1.8.2018

Klient

  • B2B Media Group GmbH, Bahnhofstraße 5, 91245 Simmelsdorf (B2B MG)

Partner

  • Siemens US
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