Klient: National Instruments Corporation (U.K.) Ltd
Format: Whitepaper
Größe: 598 KB
Sprache: Français
Datum: 02.05.2019

Principes de base de la construction de couches d’abstraction logicielle et de mesure dans un système de test

Les organisations de test dans le secteur aérospatial et défense sont constamment confrontées à des délais serrés et à des coûts de maintenance logicielle élevés. Une architecture logicielle de test à plusieurs niveaux comprenant des couches d’abstraction peut augmenter la réutilisation du code, ce qui réduit le temps nécessaire au déploiement de nouveaux systèmes de test, et limiter les efforts de maintenance logicielle, qui permet d'économiser des centaines de milliers d’euros. Dans ce white paper, vous découvrirez pourquoi les couches d'abstraction matérielle et de mesure (HAL et MAL) comptent parmi les modèles de conception les plus efficaces pour rendre le logiciel de test tout aussi évolutif que le matériel.

Kostenloser Download
Bitte geben Sie Ihre Kontaktdaten ein und klicken Sie auf den Button „Herunterladen“. Sie erhalten dann eine E-Mail mit einem Link zum Herunterladen.
Mit dem Anklicken des nachstehenden Buttons willigen Sie ein, dass die B2B Media Group GmbH mit ihren verbundenen Unternehmen und National Instruments Corporation (U.K.) Ltd Ihre Daten zu B2B-Marketingzwecken, insbesondere zur marketingbezogenen Kontaktaufnahme per E-Mail und Telefon, verarbeitet und speichert.

Sie können Ihre Einwilligung jederzeit durch eine E-Mail an unsubscribe@b2bmg.com (Betreff: National Instruments Corporation (U.K.) Ltd) widerrufen. Weitere Informationen finden Sie in den Datenschutzhinweisen.

Datenschutz-/Herunterladebedingungen:

Datum: 1.8.2018

Klient

  • B2B Media Group GmbH, Bahnhofstraße 5, 91245 Simmelsdorf (B2B MG)

Partner

  • National Instruments Corporation (U.K.) Ltd
Felder mit * sind Pflichtfelder