Клієнт: National Instruments Corporation (U.K.) Ltd
Формат: Проєктний документ
Розміри: 598,2 кБ
Мова: Français
Дата: 02.05.2019

Principes de base de la construction de couches d’abstraction logicielle et de mesure dans un système de test

Les organisations de test dans le secteur aérospatial et défense sont constamment confrontées à des délais serrés et à des coûts de maintenance logicielle élevés. Une architecture logicielle de test à plusieurs niveaux comprenant des couches d’abstraction peut augmenter la réutilisation du code, ce qui réduit le temps nécessaire au déploiement de nouveaux systèmes de test, et limiter les efforts de maintenance logicielle, qui permet d'économiser des centaines de milliers d’euros. Dans ce white paper, vous découvrirez pourquoi les couches d'abstraction matérielle et de mesure (HAL et MAL) comptent parmi les modèles de conception les plus efficaces pour rendre le logiciel de test tout aussi évolutif que le matériel.

Безкоштовне завантаження
Введіть свої контактні дані та натисніть кнопку завантаження. Ви отримаєте електронного листа з посиланням для завантаження.
By clicking the button below, you consent to B2B Media Group GmbH with its affiliated companies and National Instruments Corporation (U.K.) Ltd processing and storing your data for marketing purposes, in particular for marketing-related contact by e-mail and telephone.

You can revoke your consent at any time by sending an e-mail to unsubscribe@b2bmg.com (subject: National Instruments Corporation (U.K.) Ltd). Further information can be found in the Privacy Notice.

Privacy / download conditions:

Date: 1.8.2018

Client

  • B2B Media Group GmbH, Bahnhofstraße 5, 91245 Simmelsdorf (B2B MG)

Partner

  • National Instruments Corporation (U.K.) Ltd
Поля, позначені *, обов'язкові для заповнення